LTE測試卡
手機(jī)測試卡主要分有LTE測試卡、4G測試卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM測試卡、CDMA測試卡、UIM測試卡、RUIM測試卡、WCDMA手機(jī)測試、TD-SCDMA測試卡、CDMA2000測試卡、手機(jī)測試卡(又稱白卡)，使用于通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號測試（LTE（Long Term Evolution，長期演進(jìn))是由3GPP組織制定的UMTS技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的長期演進(jìn)，于2004年12月3GPP多倫多TSG RAN#26會議上正式立項并啟動。
LTE系統(tǒng)引入了OFDM和多天線MIMO等關(guān)鍵傳輸技術(shù)，顯著增加了頻譜效率和數(shù)據(jù)傳輸速率（峰值速率能夠達(dá)到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多種帶寬分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，頻譜分配更加靈活，系統(tǒng)容量和覆蓋顯著提升。LTE無線網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)更加扁平化，減小了系統(tǒng)時延，降低了建網(wǎng)成本和維護(hù)成本。LTE系統(tǒng)支持與其他3GPP系統(tǒng)互操作。FDD-LTE已成為當(dāng)前世界上采用的國家及地區(qū)***廣泛的，終端種類***豐富的一種4G標(biāo)準(zhǔn)。）。常用于LTE手機(jī)、4G手機(jī)、FDD手機(jī)、GSM手機(jī)、UIM手機(jī)、RUIM手機(jī)、CDMA2000手機(jī)、USIM手機(jī)，配合綜合測試儀以及自己搭建的網(wǎng)絡(luò)對手機(jī)進(jìn)行無干擾綜合測試；手機(jī)在生產(chǎn)中需要對成品進(jìn)行相關(guān)信號測試，卻要進(jìn)行大規(guī)模屏敝，需動用更多的人力物力及測試時間，使生產(chǎn)工藝繁雜及成本增加，測試卡可以實現(xiàn)信號至儀器到手機(jī)的路徑，讓測試環(huán)境更加簡潔，很好的解決了這一繁鎖問題。測試卡可進(jìn)行偶合測試，誤碼率測試、具有齊備的VCC和RSTB，可用于終端和綜測儀測試等。
廣瑞智能卡制造有限公司專業(yè)制造手機(jī)測試卡十余年，在智能卡這條道路上經(jīng)歷了無數(shù)的挑戰(zhàn)，俗話說“適者生存”能適應(yīng)這樣的環(huán)境，不斷地奮勇向前才能生存下來，何況智能卡這個行業(yè)現(xiàn)在競爭激烈。我們的測試卡測試效率保障，讓您的測試更簡單!廣瑞測試卡主要產(chǎn)品：NFC測試卡，LTE測試卡，WCDMA測試卡，TD-SCDMA測試卡，CDMA測試卡，EVDO測試卡，GSM測試卡，手機(jī)測試白卡，2G測試卡，3G測試卡，4G測試卡，CMW500測試卡，8960測試卡，CMU200測試卡。廣瑞智能卡期望成為您最忠實的朋友！
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